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Un outil de microscopie unique au monde

La plate-forme Nano-caractérisation

Published on 12 November 2015

La plate-forme Nano-caractérisation, commune au Leti, au Liten et à l'Inac, regroupe une quarantaine d'équipements lourds d'analyse, opérés par des chercheurs et des techniciens. Elle analyse des échantillons en support des programmes de recherche du CEA et mène des recherches sur des techniques de caractérisation et des protocoles, pour anticiper les besoins futurs en caractérisation.

Plusieurs de ces équipements n'existent qu'à quelques exemplaires dans le monde. C'est le cas par exemple pour le Titan Ultimate, un microscope électronique en transmission dont la résolution est de 50 picomètres.

Selon les demandes, la plate-forme caractérise des propriétés morphologiques, physiques, chimiques, électriques, etc. Elle fournit aux laboratoires demandeurs des cartographies en 2D et de plus en plus en 3D, pour affiner leur connaissance des nanomatériaux et nanocomposants. Elle collabore, en outre, avec les Grands Instruments comme le synchrotron ESRF ou le réacteur à neutrons ILL pour disposer d'équipements de caractérisation complémentaires.

Cet outil de recherche unique au monde attire de nombreux industriels : start-up, grands groupes (IBM, STMicroelectronics, etc.), équipementiers désireux de perfectionner leurs matériels.

 

Faits et chiffres

  • • Activités : Caractérisation à l'échelle nanométrique pour les micro et nanotechnologies, les nanomatériaux, les matériaux pour l'énergie, etc.
  • • Implantation : Grenoble, Instituts Leti, Liten et Inac, Collaboration avec les Grands Instruments ESRF et ILL

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80 chercheurs et techniciens

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40 équipements lourds : Analyse par faisceaux d'ions et rayons X, analyse de surface, microscopie électronique et en champ proche, caractérisation optique, résonance magnétique, préparation d'échantillons


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€30m€ d'investissement

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Grenoble, Instituts Leti, Liten et Inac, Collaboration avec les Grands Instruments ESRF et ILL

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3 000 m² de locaux